XRD摇摆曲线检测实验室-半导体XRD测试电话

xrd摇摆曲线检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

由于百分之一i百的晶态的试样比较难制备，所以通常使用差异分析法。假定结晶相百分数正比于衍射峰积分强度之和，非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。

即xc=pic;xa=qia

则:xc=ic(ic+kia)x100%

【注意：ic为晶体部分的衍射积分强度，ia为非晶部分的衍射积分强度。k=q/p，是晶体部分和非晶部分之间的单位物质的相对散射因子】

由上式已知，若温度k也已知，则即可求出样品的结晶点。但相对干同一个试模而言，k是常量。人们可利用测定二个不同结晶度的同一试模来计算出k值，从而得出试样的结晶度。

相对结晶度

如果将k值取1则xc=ic/(ic+ia)，即为相对结晶度。

这个统计方法虽然不准确，但对试样也存在择优取向，且同晶相合非晶相的化学成分也相同，可认为，xrd摇摆曲线检测机构，该法有比较意义。其实，得到结晶性相当麻烦，所以相对结晶度反而是比较常用的办法。

分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ

【注意:λ为x guang线的长度，内蒙古自治xrd摇摆曲线检测，n则为的正整数，即衍射级数】

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原位xrd的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，xrd摇摆曲线检测服务，由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试，因此得到的信息无论是晶胞参数还是峰强度，还是其他的参数都是具有相对可比性的。

而非原位xrd得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高，比如，极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态，材料测试的会产生高低变化，测到的xrd的峰会发生偏移，相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化；而不同极片活性材料和分布必然存在不同，这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。

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