XRD小角度检测服务-半导体XRD薄膜测试

xrd小角度检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd结晶度的测量方法：

1、纯样法，xrd小角度检测实验室，即把测定的物质的绕射硬度和该性质的百分之i一百的晶态试样(或者百分之i一百非晶态样品，原理相同)比较，可以得出该试样的结晶度。

以公式的形式表示则是:xc=ic/i0。

【注意：xc为待测样品的结晶度，ic为待测样品的全部衍射峰的积分强度，i0为100%晶态的积分强度】

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd小角度检测~

xrd小角度检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，广东xrd小角度检测，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

通常称为晶块尺寸或晶粒尺寸。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线。但是，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线。

使用谢乐公式计算晶粒尺寸时，若晶粒尺寸在30nm左右，计算结果较为准确。此公式适用范围为size<100nm。判断一个样品是否存在晶粒细化的依据是：衍射峰宽化与衍射角的余弦成反比。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd小角度检测~