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algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
一般来说,在强度表示中,有3个主要的问题:
(1) 通过寻峰操作得到的峰高和面积数据有时---确,但是,algan材料xrd检测实验室,若衍射谱中存在重叠峰则会使计算值偏高。
(2) 拟合面积较为准确,可解决重叠峰的问题,但拟合峰高一般有偏差。
(3) 当物相的晶粒度不同时,用峰高还是用面积来表示强度并不等价,它们受衍射峰宽度的影响。
实际操作中,通常分别使用4种强度数据进行计算,再将计算结果作平均,可得到较为理想的结果。但是,如果重叠峰---多时,可只选用拟合数据,而当样品中无重叠时,使用寻峰数据计算反而会。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
能量分辨
是指检测器接收某一能量的某---长射线的光,algan材料xrd检测测试,所输出脉冲信号的平均幅度与入射的能量成正比的特性。
闪烁检测器是各种晶体x射线衍射工作中通用性能好的检测器。它的主要优点是:对于晶体x射线衍射使用的x射线均具有---甚至达到100%的效率;使用---,稳定性好;此外,它和pc一样,具有很短的分辨时间10-7秒数量级,因而实际上不必考虑由于检测器本身的---所带来的计数损失;它和pc一样,对晶体衍射工作使用的软x射线也有一定的能量分辨本领。因此通常x射线粉末衍射仪配用的是闪烁检测器。
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指标化的过程是:对衍射谱寻峰或者拟合后,选择菜单命令“---pattern indexing”,出现指标化的对话框,然后,单击go工具,会出现一个“待选结构”列表。后从列表中选择出一种正确的结构。
例如,al合金的高温衍射,原子受热影响,晶胞膨胀较大,使实测峰与pdf卡片衍射线位置相差较大,无法直接精修,必须先做指数标定。指数标定后会显示一个可能的指标化结果的列表,当选择某一行时,会在主窗口显示该组指标对应的峰。注意观察选定的结构与实测谱是否一致。选择正确的指标化结果后就可进行结构精修,algan材料xrd检测哪里可以做,并能得到满意的结果。
总之,jade的功能非常---,界面友好,容易上手。但在使用过程中要注意方法和技巧,才能得到满意的分析结果。
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