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常见问题
q1、粉末样品量过少会有什么样的影响?
答:因为粉末样品要铺满整个样品台,样品量过少可能导致x射线打在样品台上,从而影响数据。
q2、为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低,甚至没有明显的衍射峰?
答:样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关,结晶度越好,衍射峰越明显,其次才是样品量和仪器功率。
q3、步长和扫描速度有何关联?扫描速度对样品的测量有何影响?
答:步长决定了扫描的精细程度,扫描速度是由步长和每步的时间决定的,xrd掠入射gixrd检测,每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长,步长越小,则谱越精细,信噪比越高,可用于定量计算,xrd掠入射gixrd检测机构,如xrd精修等。
q4、xrd定量的度如何?
答:xrd为半定量分析,定量测试结果度有限,仅供参考。
q5、为何有些样品的测试结果基线较高?能否---?
答:有荧光散射现象的样品,如铁含量较高的样品,测试结果会出现基线较高的情况,这是无法---的。
q6、cu靶的波长是多少?
答:kα1=1.540538埃。
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不同晶粒度的同一物相,rir值相差很大
rir值实际上与物相的很多结构因素有关。晶粒大小是影响rir值的关键因素。如果被测物相是纳米晶粒,也按正常的rir值进行分数计算,则计算结果可能会与实际值相差很大。一般来说,晶粒越小,衍射峰高越低,则实际rir值越小,有时只有pdf卡片上的rir值的1/10。影响rir值的另一个因素是粉末的研磨程度。研磨越久,rir值会越小。
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用origin计算残余应力
?分别测量φ=0,15,25,35,广西壮族自治xrd掠入射gixrd检测,45°的衍射谱;
?用jade5打开各个衍射谱,做拟合,得到峰位(也可以将衍射图数据转换成txt文本文件,再用origin绘制图谱做拟合,求峰位);
?用excel建立sin2 ψ-2θ表;●用origin作sin2 ψ-2θ图并作直线拟合,得到斜率m;●查找材料的弹性模量和泊松比,计算弹性常数k;
●按σ=km计算应力。
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