XRD残余应力检测报告-半导体研究所-山西XRD残余应力检测

xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，山西xrd残余应力检测，以及行业应用技术开发。

通常称为晶块尺寸或晶粒尺寸。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线。但是，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线。

使用谢乐公式计算晶粒尺寸时，若晶粒尺寸在30nm左右，计算结果较为准确。此公式适用范围为size<100nm。判断一个样品是否存在晶粒细化的依据是：衍射峰宽化与衍射角的余弦成反比。

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由pf和go制备的复合材料，go含量分别为2wt%、10 wt%、30wt%和50wt%，分别表示为pf/g-2、pf/g-10、pf/g-30和pf/g-50。所有样品进行x射线衍射xrd图谱测试。实验结果纯pf在23°附近表现出宽峰，石墨烯在26°处表现出峰。通过分析石墨烯的002衍射峰，当pf的重量比增---，d002的值略有增加。pf/g-30的d002值为0.344nm，xrd残余应力检测测试，略大于天然石墨的d0020.335nm。其中恒流充放电测试数据表明复合电极在20ma g-1的电流密度下显示出302mah g-1的大可逆容量，在100ma g-1下显示出231mah g-2的容量。经过200次循环后，复合阳极的容量保持率几乎为99%，进一步证实了这种新型材料在储锂方面的优势。

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