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大功率xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
常见问题
q1、粉末样品量过少会有什么样的影响？
答：因为粉末样品要铺满整个样品台，样品量过少可能导致x射线打在样品台上，从而影响数据。
q2、为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低，甚至没有明显的衍射峰？
答：样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关，结晶度越好，衍射峰越明显，其次才是样品量和仪器功率。
q3、步长和扫描速度有何关联？扫描速度对样品的测量有何影响？
答：步长决定了扫描的精细程度，大功率xrd检测服务，扫描速度是由步长和每步的时间决定的，每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长，大功率xrd检测分析，步长越小，则谱越精细，信噪比越高，可用于定量计算，江西大功率xrd检测，如xrd精修等。
q4、xrd定量的度如何？
答：xrd为半定量分析，定量测试结果度有限，仅供参考。
q5、为何有些样品的测试结果基线较高？能否---？
答：有荧光散射现象的样品，如铁含量较高的样品，测试结果会出现基线较高的情况，这是无法---的。
q6、cu靶的波长是多少？
答：kα1=1.540538埃。
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不能精修的原因与解决办法
选择精修命令后，有时会出现“unable to graft hkls to peaks”的提示。表明不能进行精修。其原因有两种：一是有些拟合的峰没有对应的(hkl)标记。例如，测量铁素体的5条线，但检索pdf卡片只有前3条线，3条衍射线不能进行精修。二是衍射峰位相对于“选定结构 (标准卡片)”的峰位偏离太多。
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xrd全称x射线衍射(x-raydiffraction)，大功率xrd检测费用多少，利用x射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后x射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“眼”来看晶体内部是否存在缺陷位错和晶格缺陷等。微区衍射也称为射线微区衍射、微区x射线衍射或 uxrd)分析使用非常窄的光束来进行区域内的高度局部化xrd测量。这可以使用能减少射出×射线的入射光束准直器来实现。使用单毛细管可以产生直径约为50 um 的入射x射线束。微区衍射技术通常用于具有不同组成、晶格应变或优选取向微晶的小样品或非均质样品。
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