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xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,xrd晶粒尺寸检测,以及行业应用技术开发。
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(1) 给出检索条件:包括检索子库有机还是无机、矿物还是金属等等、样品中可能存在的元素等;
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(3)、从列表中检定出一定存在的物相人工完成。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
步进扫描粉末衍射仪的一种工作方式扫描方式。试样每转动一步固定的δθ就停下来,测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。强度的测量也有两种方式:定时计数方式和定数计时方式。然后试样再转过一步,再进行强度测量。如此一步步进行下去,完成角度范围内衍射图的扫描。
用记录仪记录衍射图时,xrd晶粒尺寸检测多少钱,采用步进扫描方式的优点是不受计数率表rc的影响,没有滞后及rc的平滑效应,分辨率不受rc影响;尤其它在衍射线强度极弱或背底---时---有用,在两者共存时更是如此。因为采用步进扫描时,可以在每个θ角处作较长时间的计数测量,以得到较大的每步总计数,从而可减小计数统计起伏的影响。
步进扫描一般耗费时间较多,因而须认真考虑其参数。选择步进宽度时需考虑两个因素:一是所用接收狭缝宽度,步进宽度至少不应大于狭缝宽度所对应的角度;二是所测衍射线线形的尖锐程度,步进宽度过大则会降低分辨率甚至掩盖衍射线剖面的细节。为此,步进宽度不应大于尖锐峰的半高度宽的1/2。但是,也不宜使步进宽度过小。步进时间即每步停留的测量时间,若长一些,可减小计数统计误差,提高准确度与灵敏度,但将损失工作效率。
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