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xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
x射线衍射仪的使用方法
a装填样品
按下衍射仪面板上的door按钮,指示灯闪烁、蜂鸣器发出报警声,缓慢的向右拉开衍射仪保护门。
将样品表面朝上安装到样品台上,此时注意尽可能的将样品置于载物台的中心位置。
向左轻拉右侧门,两门自动吸住后报警声停止。
b设置仪器参数
---桌面right measurement system图标,进入到软件控制界面
双击condition下面的1,进入到测量条件的设置界面,根据所测试样品要求,设置start angle起始角、stop angle终止角、scan speed扫描速度等参数注意:一般扫描电压和扫描电流这些参数不要更改
条件设置好以后,关闭条件设置界面,返回主界面注意:在设置参数的时候,---行政xrd薄膜检测,xrd的起始角一般是大于3°,终止角小于140°,否则会使测角仪的旋转臂撞到其他部件,使测角仪受到损坏。
---browse按钮,进入到保存文件对话框,设置文件保存位置和样品名称后,返回主界面
c开始测试
在主界面上---executement,系统开始调整kv、ma值,此时弹出新的测量窗口,直到测量完成,测量数据自动保存在所设置为保存位置。
d数据存盘
一般为了防止u盘存在---,拷取实验数据需要光盘,下面是一个光盘流程
e关闭系统
在测试的时候根据实际情况,如果后面仍有学需要测试,在完成自己样品测试后,将自己的样品取出即可。如果没有人测试,则按照下面的流程来关闭x射线
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xrd分析与xrf分析的异同
1,xrd薄膜检测多少钱,用途不同。xrd是x射线衍射光谱,x-ray diffraction ---ysis)是用于测定晶体的结构的,xrd薄膜检测测试,而xrf是x射线荧光发射谱,x-ray fluorescence ---ysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般测定原子序数小于na的元素,定量测定的浓度范围是常量、微量、痕量。
2,原理上的差别:xrd是以x射线的相干散射为基础,以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶体理论、倒易点阵厄瓦尔德图解为主要原理的;
xrf则是以莫斯莱定律(1/λ)1/2=k(z-s),k,s是与线性有关的常数。因此,得出不同元素具有不同的x射线即特征线为基础对元素定性、定量分析的。
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x射线衍射的方向体现在xrd谱的横坐标,x射线衍射强度记录在xrd谱的峰强,解析xrd谱可以获得晶体结构、晶相晶系等的信息。
对无机材料测试研究、金属材料、纳米材料、超导材料、高分子材料等等应用领域都有---的应用。
x射线衍射对无机材料、金属的分析,常作的就是对材料的物相的定性分析,把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物质物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相是什么物相?晶体结构是属于立方晶体、四方晶体、六方晶体、三方晶体、正交晶体、三斜晶系、单斜晶系的那一种?空间点阵是14种空间点阵中的哪一种?
再进一步的就是进行x射线衍射物相定量分析,根据衍射花样的强度,确定材料中各物相的含量,作出含量比例的计算判断。
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