半导体XRD检测报告-半导体XRD研究所

半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

相干散射

物质对x射线散射的实质是物质中的电子与光子的相互作用。当入射光子碰撞电子后，半导体xrd检测哪里可以做，若电子能牢固地保持在原来位置上原子对电子的束缚力很强，则光子将产生刚性碰撞，其作用效果是辐射出电磁波——散射波。这种散射波的波长和频率与入射波完全相同，新的散射波之间将可以发生相互干涉——相干散射。x射线的衍射现象正是基于相干散射之上的。

 x射线管

衍射用的x射线管实际上都属于热电子二极管，有密封式和转靶式两种。前者大功率不超过2.5kw，视靶材料的不同而异；后者是为获得高强度的x射线而设计的，一般功率在10kw以上。

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rir的取值问题

rir即当物相含量与标准物相含量相等时，两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增，半导体xrd检测服务，因此，多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是，在实际操作中存在一些问题：

同一物相有多张pdf卡片与之对应，而且rir值不同

例如，mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应，它们的结构相同，但是，rir值略有不同，如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说，虽然有多张pdf卡片与被测相相对应，但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别，因此，应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片，---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。

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